機(jī)內(nèi)測(cè)試虛警分析和控制

現(xiàn)代飛行器廣泛采用機(jī)內(nèi)測(cè)試(Built-intest,BIT)技術(shù),以便對(duì)其內(nèi)部故障進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)、診斷和隔離,但是常規(guī)BIT面臨診斷能力不足和診斷模糊性等問題,導(dǎo)致BIT虛警率高,難以有效發(fā)揮其應(yīng)有的作用.本文論述了BIT虛警的基本理論、虛警的危害及現(xiàn)狀,并從BIT虛警產(chǎn)生的原因分析入手,提出了解決虛警問題的一些方法和措施.

作 者： 楊鈺 Yang Yu   作者單位： 空軍第一航空學(xué)院  刊 名： 航空制造技術(shù)  ISTIC 英文刊名： AERONAUTICAL MANUFACTURING TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2007 ""(10)  分類號(hào)： V2  關(guān)鍵詞： 機(jī)內(nèi)測(cè)試   虛警   故障檢測(cè)   人工智能  

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