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CAF:電子工業(yè)小型化的威脅
概述了CAF的歷史、發(fā)生的原理,分析了CAF產生的根本原因,比較了幾種CAF失效分析的方法,同時也介紹了一種簡易的測試設備.
作 者： 高艷麗 華嘉楨 Gao Yanli Hua Jiazhen 作者單位： 江南計算技術研究所,214083 刊 名： 印制電路信息 英文刊名： PRINTED CIRCUIT INFORMATION 年，卷(期)： 2005 ""(10) 分類號： F4 關鍵詞： CAF 小型化【CAF:電子工業(yè)小型化的威脅】相關文章：
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