硅對(duì)鎘脅迫下水稻幼苗體內(nèi)鎘分布規(guī)律的研究

采用溶液培養(yǎng),研究不同濃度(0、30、80、130、180 mg/L)的SiO_2在4.0 mg/L CdCl_2濃度脅迫下對(duì)水稻幼苗體內(nèi)鎘(Cd)的分布規(guī)律.結(jié)果表明,在Cd脅迫下Si降低了水稻幼苗根、莖、葉、鞘、共質(zhì)體和質(zhì)外體Cd含量,其分布規(guī)律為:根＞莖葉＞莖鞘＞葉片,呈現(xiàn)出末端分布規(guī)律.說明Si促使大量的Cd累積在根中,根是Cd累積的主要部位,而莖、葉中Cd累積量較少.可見,Si可抑制水稻體內(nèi)Cd由地下部分向地上部分運(yùn)輸,且能抑制地上部分Cd向葉片運(yùn)輸,并能減少Cd進(jìn)入共質(zhì)體.

作 者： 黃秋嬋 韋友歡 吳穎珍 HUANG Qiu-chan WEI You-huan WU Ying-zhen   作者單位： 廣西民族師范學(xué)院化學(xué)與生物工程系,廣西,崇左,532200  刊 名： 湖北農(nóng)業(yè)科學(xué)  ISTIC PKU 英文刊名： HUBEI AGRICULTURAL SCIENCES  年，卷(期)： 2010 49(2)  分類號(hào)： Q945.78  關(guān)鍵詞： 硅(Si)   鎘(Cd)脅迫   水稻幼苗   分布規(guī)律   silicon(Si)   cadmium(Cd) stress   rice (Oryza sativa L.) seedling   distribution regulation  

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