微分代數(shù)在磁場分析器高階像差分析中的應(yīng)用

將微分代數(shù)引入到磁場分析器任意高階的像差分析計(jì)算中.對一個實(shí)際的均勻扇形磁場分析器中的三階像差系數(shù)的微分代數(shù)數(shù)值結(jié)果和相應(yīng)的解析解進(jìn)行了比較,相對誤差不高于10-14,證明微分代數(shù)方法是一種具有極高精度的數(shù)值計(jì)算技術(shù).

作 者： 程敏 唐天同 姚振華 王振華   作者單位： 西安交通大學(xué)電子與信息工程學(xué)院,710049,西安  刊 名： 西安交通大學(xué)學(xué)報  ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY  年，卷(期)： 2002 36(6)  分類號： O463.1  關(guān)鍵詞： 微分代數(shù)   磁場分析器   像差分析  

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