雜質(zhì)吸收對光子晶體缺陷模偏振態(tài)的影響

引入復(fù)折射率并利用特征矩陣法,研究了雜質(zhì)的吸收對TE波和TM波缺陷模透射峰的影響.得出:雜質(zhì)的消光系數(shù)對TE波和TM波的缺陷模透射峰都有顯著的影響,但對TE波缺陷模的影響比對TM波缺陷模的影響更為明顯.當(dāng)消光系數(shù)一定時,TE波的缺陷模透射峰隨入射角的增大而迅速減小,而TM波的缺陷模透射峰隨入射角的增大而增大.利用這一特性可以設(shè)計光子晶體偏振濾波器.

作 者： 劉啟能 LIU Qi-neng   作者單位： 重慶工商大學(xué),理學(xué)院,重慶,400067  刊 名： 半導(dǎo)體光電  ISTIC PKU 英文刊名： SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS  年，卷(期)： 2007 28(6)  分類號： O436  關(guān)鍵詞： 光子晶體   特征矩陣   消光系數(shù)   缺陷模   偏振態(tài)  

【雜質(zhì)吸收對光子晶體缺陷模偏振態(tài)的影響】相關(guān)文章：

光子晶體缺陷模的偏振特性研究04-29

一維多層摻雜光子晶體缺陷模的偏振特性04-26

一維摻雜光子晶體的缺陷模和偏振特性研究04-28

旋轉(zhuǎn)光纖對二階偏振模色散的影響04-28

能夠補償二階偏振模色散的三階段偏振模色散補償器04-29

超純水中雜質(zhì)對光子相關(guān)譜法測量納米顆粒粒徑的影響04-26

硝態(tài)氮(NO-3)對水稻側(cè)根生長及其氮吸收的影響04-30

MtPAP1表達特性及異源表達對擬南芥有機態(tài)磷吸收的影響04-27

可調(diào)諧光子晶體偏振通帶濾波器的理論研究04-28

單模光纖中偏振模色散測量方法的研究04-27