Pd/ZnO和Ag/ZnO復(fù)合納米粒子的SPS和XPS研究

用焙燒前驅(qū)物堿式碳酸鋅的方法制備了ZnO納米粒子,采用光還原沉積貴金屬的方法分別得到了質(zhì)量分數(shù)為0.5%的Pd/ZnO和Ag/ZnO復(fù)合納米粒子,并利用XRD、TEM、XPS和SPS等測試技術(shù)對樣品進行表征.初步探討了貴金屬在ZnO納米粒子表面形成原子簇的原因及沉積貴金屬對ZnO納米粒子表面光電壓信號的影響.以光催化氧化氣相正庚烷為模型反應(yīng),考察了沉積貴金屬對ZnO納米粒子光催化活性的影響,并探討了光催化活性有所提高的內(nèi)在原因.結(jié)果表明,ZnO納米粒子沉積貴金屬后,其表面光電壓信號明顯下降,而光催化活性卻大大地提高,這說明可以通過表面光電壓譜的測試來初步的評估納米粒子的光催化活性,即粒子的表面光電壓信號越弱,其光催化活性越高.

作 者： 井立強 孫曉君 蔡偉民 鄭大方 徐躍 徐朝鵬 徐自力 杜堯國   作者單位： 井立強,孫曉君,蔡偉民,徐朝鵬(哈爾濱工業(yè)大學(xué)環(huán)境科學(xué)與工程系,哈爾濱,150001)

鄭大方,徐躍(吉林大學(xué)分析測試實驗中心,長春,130023)

徐自力,杜堯國(吉林大學(xué)環(huán)境科學(xué)與工程系,長春,130023) 

刊 名： 物理化學(xué)學(xué)報  ISTIC SCI PKU 英文刊名： ACTA PHYSICO-CHIMICA SINICA  年，卷(期)： 2002 18(8)  分類號： O643  關(guān)鍵詞： ZnO   復(fù)合納米粒子   SPS(表面光電壓譜)   XPS   貴金屬   光催化活性  

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