等離子體綜合實(shí)驗(yàn)儀

介紹了自行研制的等離子體實(shí)驗(yàn)儀,用雙探針法測量了電子密度隨放電電壓的變化關(guān)系. 采用光譜輔助診斷技術(shù)對等離子體原子激發(fā)溫度沿軸向位置的變化進(jìn)行比較測量.

作 者： 李明 王葉 耿在斌 LI Ming WANG Ye GENG Zai-bin   作者單位： 上海大學(xué),物理系,上海,200444  刊 名： 物理實(shí)驗(yàn)  PKU 英文刊名： PHYSICS EXPERIMENTATION  年，卷(期)： 2009 29(11)  分類號： O53  關(guān)鍵詞： 等離子體   綜合性實(shí)驗(yàn)   光譜分析  

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