空間差分方法在鈦酸鍶基陶瓷晶界的X射線能量色散譜分析中的應(yīng)用

X射線能量色散譜(EDS)分析方法在材料領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用.將空間差分方法應(yīng)用到EDS分析中.能夠突破電子束斑的限制.大大擴(kuò)展其分析材料微小區(qū)域組分的能力.本文以鈦酸鍶基陶瓷材料中晶界納米顆粒和晶界偏析為例,簡要介紹了與EDS分析相關(guān)的空間差分方法,并進(jìn)行了進(jìn)一步的分析和討論.

作 者： 邢娟娟 王賢浩 顧輝 XING Juan-juan WANG Xiao-hao GU Hui   作者單位： 邢娟娟,王賢浩,XING Juan-juan,WANG Xiao-hao(中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所高性能陶瓷和超微結(jié)構(gòu)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,上海,200050;中國科學(xué)院研究生院,北京,100049)

顧輝,GU Hui(中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所高性能陶瓷和超微結(jié)構(gòu)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,上海,200050) 

刊 名： 電子顯微學(xué)報(bào)  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF CHINESE ELECTRON MICROSCOPY SOCIETY  年，卷(期)： 2008 27(1)  分類號： O657.62 O766+.1 TB383 TG115.21+5.3  關(guān)鍵詞： X射線能量色散譜(EDS)   空間差分   SrTiO3   晶界偏析   納米顆粒  

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